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IC燒錄機測試不穩定怎么辦？
通常客戶在用ATE測試座做IC測試的時候，經常有反饋測試不穩定的問題。有的是測試項單獨測pass，整個flow跑就會不穩定。有的是調試時單步執行pass，測試項整體跑就fail。有的是手測pass，量產一跑就fail。這種不穩定的問題，往往是最令人頭疼的，但其實只要仔細分析，最終還是能夠找到解決方案的。
歸根結底，單獨測pass，整個flow連著跑就不穩定，主要是由于前面的測試項的狀態影響了當前測試項的狀態。
量產不穩定
根據我個人的經驗，量產不穩定主要發生在paramatric test的時候。比如DC的電壓、電流值，或者ADC/DAC的SNR, INL, DNL，或者PLL的frequency等等。
當Hander或者Prober跑起來的時候，每次socket或者probe needle與DUT接觸的狀況不一樣，導致paramatric測試fail。當清洗socket或者按時清針不能解決問題的時候，我們需要把程序的margin調得更大一些。通常CP測試比FT更容易出現parameter test的不穩定。因為CP測試整個docking的結構比FT測試更加復雜。
還有一種，是由于不恰當的test flow導致的問題。
因為ATE測試和EVB上的測試其實是不同的。EVB上面的測試是功能測試，整顆芯片需要boot起來，所有的模塊都會工作起來，而且所有的電源基本同時處于Vmax, Vmin或者Vtyp的狀態。
而ATE測試，基本是模塊化的，比如在測試ADC的時候，OTP部分的電源可以不上電，測試數字部分的scan時，ADC部分可以不上電等等。即使所有的電源都上電了，但是也可以某些模塊的電源處于Vmax，某些處于Vtyp。所以當我們review整個test flow，并觀察所有的電源pin的上電情況時，很有可能是每個測試項都不同的。
測試不穩定這種事，真的是很難一言以蔽之，只能具體問題具體分析。在此只是給大家提供了一些思路，有很多我沒接觸過的情況，沒想到的問題，希望大家不吝賜教。
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